ТОВ “ГЕО-ДЕЛЬТА-КБ”” має ексклюзивні права на використання в Україні технології QuadTM компанії Roke technologies Ltd (Канада). Технологія QuadTM передбачає проведення досліджень за один спуск- підйом у закритому стовбурі свердловин комплексом ядерних методів та їх спеціальну обробку і інтерпретацію. Дослідження можна проводити в свердло- винах при наявності чотирьох металічних колон.
Залучення нової технології дозволить, крім традиційних задач, визначати наступні параметри покладу:
- достовірне визначення пористості порід;
- достовірне визначення величини нафтогазо- насиченості пласта;
- диференціація розрізу по проникності;
- визначення ефективної пористості порід;
- визначення відносної густини відкладів та проникності з метою уточнення нафтогазонасиченості продуктивних інтервалів;
- створення літологічної моделі розрізу свердловини;
- оцінка ступеню забруднен- ня присвердловинної зони пласта буровим розчином та цементом.
Очікувані результати у разі використання технології QuadTM:
Достовірне виділення продуктивних пластів та визначення фільтраційно-ємнісних властивостей, що дозволить підвищити обсяги видобування вуглеводнів у окремих свердловинах, і як наслідок призведе до приросту запасів вуглеводнів в цілому по родовищу.
Порівняння пористості визначеної за керном та пористістю Quad Neutron
Для інтерпретації результатів досліджень проведених чотирьох-детекторною апаратурою нейтронного каротажу Quad Neutron використовується власний програмний комплекс обробки даних.
Технічні характеристики свердловинного обладнання | |
---|---|
Діаметр | 43 мм |
Номінальна температура | 150 °С |
Номінальний тиск | 138 МПа |
Довжина | 4,5 м (6 м в автономному режимі) |
К-ть детекторів радіоактивного випромінювання | 6 (2-а детектора Не3 для 2ННКт, 2-а детектора NaI (Tl) для 2НГК, 2-а детектора NaI (Tl) для ГК) |
Тип джерела швидких нейтронів | Am241Be |
Потужність джерела | 6 Кі, з енергією 4,5 МеВ |
Додаткові датчики | Локатор муфт, 2-а датчика температури (в верхній та нижній частині приладу), 2-а датчика резистивіметра(в верхній та нижній частині приладу). |